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簡要描述：絕緣介電常數(shù)測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數(shù)和介質損耗（tanδ）。介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質為電介質和真空時的電容的比值，表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力。
產品型號：LDJD-C廠商性質：生產廠家更新時間：2024-06-28訪 問 量：1747產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 建材,電子,印刷包裝,航天,電氣 | 品牌 | 航天偉創(chuàng) |
絕緣介電常數(shù)測試儀
絕緣介電常數(shù)儀
一、產品介紹
絕緣介電常數(shù)測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數(shù)和介質損耗（tanδ）。介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質為電介質和真空時的電容的比值，表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力。
絕緣介電常數(shù)儀由S916測試裝置（夾具）、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入QBG-3E/QBG-3F的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，介電常數(shù)及介質損耗測試系統(tǒng)的主機則是一臺阻抗測量設備（高頻Q表）。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用QBG-3E/3F或AS2853A數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質損耗（tanδ）。
二、適用標準
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法
三、主要測試材料
介電常數(shù)及介質蒜損耗測試系統(tǒng)主要測試材料:
1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環(huán)氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
LDJD-B 型 介電常數(shù)及介質損耗測試儀
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