LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)

LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀為160Hzi介電常數(shù)測試儀，該儀器采用多種*技術(shù)，包括自動化測量、全參數(shù)液晶顯示、DDS數(shù)字直接合成的信號源等技術(shù)。

優(yōu)化使測試回路殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

主要技術(shù)參數(shù)如下：

1. 信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

2. 信號源頻率精度3×10^-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字；信號頻率覆蓋比11000：1；采樣精度12BIT（高精度A/D采樣）；

3．Q值測量范圍：1～1000自動/手動量程；Q值分辨率0.1，4位有效數(shù)字；Q值測量工作誤差＜5%；

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

5．電感測量范圍：1nH～140mH，分辨率0.1nH，自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能；

6．電容直接測量范圍：1pF～25nF，分辨率0.1pF，準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；                                      

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF（一體鍍銀成型，精度高）；帶步進馬達，電容自動搜索；                                        

8． 材料測試厚度：0.1mm~10mm；

9． 合格指示預置功能范圍：5～1000；

10．LCD顯示參數(shù)F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13.（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：

分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司還生產(chǎn)其他型號介電常數(shù)儀，型號如下：

 LDJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  10kHz～70MHz  

 LDJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  10kHz～110MHz

 LDJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀  100kHz～160MHz

LDJD-C型硅油介電常數(shù)測量儀——航天偉創(chuàng)