• 灼熱絲試驗簡介

       灼熱絲試驗是用灼熱絲裝置和通用試驗程序模擬熱源（如灼熱元件或過載電阻）短期內(nèi)產(chǎn)生熱應力的效應，即通過模擬技術(shù)進行著火危險評定的試驗。灼熱絲試驗是檢驗材料是否耐燃的主要測試項目，在很多電氣安全標準中均涉及到了該試驗，例如家電電氣安全標準GB4706.1/IEC60335[4]、燈具電氣安全標準GB7000.1[5]/IEC60598[6]等，由此可見其重要性。灼熱絲試驗為定性試驗，大多檢測人員認為該試驗較為簡單，但有許多隱形因素能夠影響最終試驗結(jié)果，必須引起重視。

•  灼熱絲試驗儀

 北京航天偉創(chuàng)生產(chǎn)的ZRS-2灼熱絲試驗儀滿足標準GB/T5169.10和GB/T5169.11，適用于電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進行著火危險試驗，模擬灼熱元件或過載電阻之類的熱源或點火源在短時間所造成的熱應力。ZYS-2灼熱絲試驗儀的主要參數(shù)有：

1. 工作電源：AC220V，50Hz，≤500W
2. 灼熱絲溫度： 500~1000℃±2℃連續(xù)可調(diào)
3. 灼熱時間：   0-999.9s±0.1s可調(diào) (一般選擇為30s)
4. 起燃時間：   0-999.9s±0.1s，自動記錄，手動暫停
5. 熄滅時間：   0-999.9s±0.1s，自動記錄，手動暫停
6. 熱 電 偶：Φ0.5mm進口鎧裝（K型）熱電偶
7. 灼 熱 絲：Φ4 mm的鎳鉻絲
8. 燙入深度：7mm±0.5mm
9. 樣品壓力：1N±0.2N
10. 試驗速度：14mm/s 。
11. 采用紅線光電停止開關(guān),使限位更加精準.
12. 可控硅控制調(diào)溫系統(tǒng)，使溫度調(diào)節(jié)更準確。
13. 時間、溫度數(shù)字顯示，觀察記錄方便
14. 試驗背景：黑背景，背景照度≤20Lux。
15. 試驗過程：試驗程序自動控制，獨立抽風
16. 燃燒試驗區(qū)容積：：＞0.5 立方，長*寬*高約900mm×590mm×1050mm, （可根據(jù)客戶要求定做不銹鋼機箱、0.75 立方或 1 立方 ）
17. 外型尺寸:寬1160mm×深600mm×高1310（含腳）mm

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ZYS-2 灼熱絲試驗儀

• ?灼熱絲試驗原理

      將被試驗樣品固定在灼熱絲試驗裝置上，使樣品表面的平面部分垂直并使灼熱絲的頂部施加到表面平面部分的中心處。試驗使用標準直徑為4mm的鎳/鉻（80/20）并按要求制成環(huán)形的灼熱絲，通過調(diào)節(jié)電路電
流使灼熱絲加熱至預定溫度。然后使灼熱絲頂部慢慢地接觸被試驗樣品達30±1s，并以大約10-25mm/s的速率接近和離開被試驗樣品，但是在臨近接觸時為了避免撞擊，接近的速率應減少到接近零，沖擊力不超
過1.0±0.2N。在材料融化脫離灼熱絲的情況下，灼熱絲不應與試驗樣品保持接觸。施加時間結(jié)束后，將灼熱絲和被試驗樣品慢慢分開，避免被試驗樣品任何進一步受熱和有任何空氣流動可能對試驗結(jié)果的影響。灼熱
絲進入或貫穿被試驗樣品的深度應限定在7±0.5mm。

       灼熱絲試驗合格的判定準則主要為：①樣品無火焰或不灼熱；②樣品產(chǎn)生火焰或灼熱，但在灼熱絲移去后30s內(nèi)自行熄滅，且熔融物未點燃鋪底層上的絹紙。

• 影響試驗結(jié)果的因素

 1. 灼熱絲試驗電壓波動

      在灼熱絲試驗中，灼熱絲溫度主要依靠電流大小，因此電流與溫度之間的關(guān)系呈線性狀態(tài)。同時我們可以通過公式I=U/R，并以750℃試驗溫度點電流I為100.5A時為例：當R值不變，電壓U波動5%時，此時電流I也會波動5%，即電流波動為5.025A，通過與D值的換算，獲得數(shù)值為37.185℃。此時溫度波動達±37℃左右，已遠遠超出GB/T5169.10-2017標準中試驗溫度允許波動±15℃的規(guī)定。

2. 設備計量與確認不全面

 在GB/T5169.10-2017標準中要求對灼熱絲頂部和溫度測量系統(tǒng)進行校驗。校驗時，“銀箔法”只對試驗裝置溫度測量系統(tǒng)進行了校驗，而忽略了灼熱絲頂部尺寸尤其是熱點偶放置位置對灼熱絲測試結(jié)果影響的重要性。

 3. 設備操作與維護不當

      在灼熱絲試驗后使用鋼刷對灼熱絲進行清理時，一些試驗操作人員不注意熱電偶的位置，無意之中使灼熱絲頭部表面與熱電偶的距離加大導致測試結(jié)果偏離。

      在灼熱絲試驗裝置中灼熱絲與熱電偶為易耗品，據(jù)統(tǒng)計頻繁使用的熱電偶平均使用2個月左右后即會被毀壞，因此應密切注意灼熱絲與熱電偶是否有損，有損的灼熱絲與熱電偶同樣也會導致測試結(jié)果偏離。