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怎么測(cè)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗

更新時(shí)間:2021-06-09      點(diǎn)擊次數(shù):2219
  • 什么是介電常數(shù)

 某一電介質(zhì)(如硅酸鹽、高分子材料)組成的電容器在一定電壓作用下所得到的電容量Cx與同樣大小的介質(zhì)為真空的電容器的電容量Co之比值,被稱為該電介質(zhì)材料的相對(duì)介電常數(shù)

  • 什么是介質(zhì)損耗

?電介質(zhì)材料在外電場(chǎng)作用下發(fā)熱而損耗的那部分能量。在直流電場(chǎng)作用下,介質(zhì)沒有周期性損耗,基本上是穩(wěn)態(tài)電流造成的損耗在交流電場(chǎng)作用下,介質(zhì)損耗除了穩(wěn)態(tài)電流損耗外,還有各種交流損耗。由于電場(chǎng)的頻繁轉(zhuǎn)向,電介質(zhì)中的損耗要比直流電場(chǎng)作用時(shí)大許多(有時(shí)達(dá)到幾千倍),因此介質(zhì)損耗通常是指交流損耗。

 

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì);

通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。

  •  怎么測(cè)試介電常數(shù)

 

  1. S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。

?介電常數(shù)測(cè)試儀 測(cè)微桿

 

  1. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取100uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
  2. 被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當(dāng)材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平整。(小于0.5mm的樣品測(cè)試,請(qǐng)參考附錄三,疊加測(cè)試法)
  3. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。
  4. 再松開兩片極片,把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量(旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量),使主機(jī)處于諧振點(diǎn)(Q值最大值)上。
  5. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品,這時(shí)主機(jī)又失去諧振(Q值變?。藭r(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使主機(jī)再回到諧振點(diǎn)(Q值最大值)上,讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
  6. 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):

     Σ=D2 / D4

介電常數(shù)測(cè)試儀

  • 怎么測(cè)介質(zhì)損耗

?

  1. 主機(jī)C0值的計(jì)算方式:
  1. 選一個(gè)適當(dāng)?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;
  2. 將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右,令這個(gè)電容是C4,
  3. 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測(cè)試回路諧振,諧振時(shí)Q的讀數(shù)為Q4(注:若頻率搜索未能找到最高Q值諧振點(diǎn),可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達(dá)到Q值最大值的諧振點(diǎn);
  4. 將測(cè)試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測(cè)試電路重新諧振,此時(shí)可變電容器值為C3,Q值讀數(shù)為Q3。(注:C3數(shù)值肯定比C4要小)

機(jī)構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4C3

分布電容為機(jī)構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和

介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為

 

  1. S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到主機(jī)測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
  2. 在主機(jī)電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈(本公司 主機(jī)配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時(shí)電感取100uH,15MHz時(shí)電感取1.5uH。
  3. 被測(cè)樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降,樣品要盡可能平直。
  4. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測(cè)樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)處于諧振點(diǎn)(Q值最大值),然后按一次 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動(dòng)輸入,記住厚度D2的值,此時(shí)顯示數(shù)值為C2Q2。
  5. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品,(保持S916測(cè)試夾具的平板電容極片之間距不變)這時(shí)主機(jī)又失去諧振(Q值變?。?,再改變主機(jī)上的主調(diào)電容容量,使主機(jī)重新處于諧振點(diǎn)(Q值最大值)上。
  6. 注意:多次測(cè)試同一個(gè)材料時(shí),要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。
  7. 第二次按下 主機(jī)上的小數(shù)點(diǎn)(tgδ)鍵,顯示屏上原C2Q2顯示變化為C1Q1,同時(shí)顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =x x x x x ,即完成測(cè)試。
  8. 出錯(cuò)提示,當(dāng)出現(xiàn)tn =  NO 顯示時(shí),說明測(cè)試時(shí)出現(xiàn)了差錯(cuò),發(fā)生了Q1 Q2C1 C2的錯(cuò)誤情況。

?北京航天偉創(chuàng)設(shè)備科技有限公司 經(jīng)營(yíng)多種型號(hào)介電常數(shù)測(cè)試儀、直流電阻測(cè)試儀、體積電阻率測(cè)試儀等。

 

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